Trong khi Samsung chưa đưa ra bất cứ phản hồi gì từ sau lần phát biểu rằng hãng sẽ công bố nguyên nhân Note 7 phát nổ vào cuối năm nay thì một báo cáo từ trang Instrumental mới đây tiết lộ rằng nguyên nhân gây ra lỗi có thể là do chính thiết kế pin của thiết bị.
Theo những gì mà Instrumental tìm hiểu, viên pin trên thiết bị di động được thiết kế với hai lớp polymer có chất điện phân được sử dụng để ngăn cách cực dương làm bằng Lithium Colbalt Oxide và cực âm làm bằng graphite. Nếu hai cực này tiếp xúc với nhau thì chất điện phân sẽ nóng lên và khiến cho thiết bị phát nổ.
Báo cáo của Instrumental chỉ ra rằng việc nén các thành phần của pin lại có thể khiến cực dương và cực âm va chạm vào nhau. Samsung từng nói rằng có thể hãng đã quá nóng vội trong việc thiết kế. Để làm ra một chiếc điện thoại mỏng, viên pin phải được thiết kế chiếm càng ít không gian càng tốt, đồng thời vẫn phải đảm bảo được mức dung lượng nhất định để đáp ứng nhu cầu sử dụng hằng ngày.
Thường thì trong quá trình sử dụng, viên pin sẽ bị phồng lên một chút trong ngưỡng cho phép do tác động của lực bên ngoài đến mặt lưng của điện thoại như khi ta để nó vào trong túi quần sau và ngồi xuống ghế. Thế nhưng Samsung đã thiết kế bộ phận pin trên Note 7 quá hẹp để có thể phòng tránh những trường hợp như vậy. Nếu Note 7 không được thu hồi, thì có lẽ đến thời điểm này thân máy đã bị tách làm đôi.
Sự cố Note 7 đã khiến Samsung phải chịu hậu quả rất nặng nề cả về mặt tài chính lẫn danh tiếng. Ước tính thiệt hại mà hãng phải gánh chịu là hơn 5 tỷ USD do phần thu nhập bị mất cùng các chi phí liên quan đến việc thu hồi chiếc flagship này.
Trên đây mới chỉ là kết quả nghiên cứu của Instrumental, để chính xác hơn, có lẽ chúng ta phải chờ thêm một thời gian nữa trước khi Samsung đưa ra phản hồi chính thức vào cuối tháng 12 này.
Ho Huyn
Nguồn: PhoneArena
Nguồn: fptshop.com.vn
