Samsung đã mở một phòng thí nghiệm quy mô lớn tại Gumi, Hàn Quốc để kiểm tra độ an toàn của các sản phẩm do công ty sản xuất. Như một phần của quy trình kiểm tra an toàn 8 bước mới, Samsung sẽ tiến hành các cuộc kiểm tra pin thường xuyên hơn, bao gồm các thử nghiệm sạc quá mức, thử nghiệm chọc thủng và thử nghiệm với áp lực nhiệt độ cực cao.
Phòng thí nghiệm của Samsung
Máy đang tiến hành thử nghiệm ảnh hưởng của sạc không dây với Note 7
Kiểm tra sạc qua cổng USB-C bên trong phòng thí nghiệm của Samsung
Ngoài các cuộc kiểm tra về phần cứng, một quy trình kiểm tra ngặt nghèo cũng được áp dụng cho các thuật toán phần mềm
Các thuật toán phần mềm được kiểm tra nhiều hơn khi Samsung tiến hành một cuộc đánh giá toàn diện những thanh pin có vấn đề
Như một phần của quy trình kiểm tra độ an toàn 8 bước, một chiếc Note 7 đang phải trải qua bài kiểm tra độ bền
Một bài kiểm tra khoan thủng pin đang được tiến hành như một phần của quá trình điều tra độ bền
Một bài kiểm tra lực nén trên các thanh pin của Samsung cũng được tiến hành như một phần của cuộc điều tra
Bài kiểm tra vòng đời pin cũng nằm trong quy trình kiểm tra an toàn pin 8 bước mới
Các thanh pin của Samsung cũng được kiểm tra hình ảnh để soát lỗi
Một máy tia X soi vào bên trong thanh pin, kiểm tra xem có bất cứ di tật bất thường nào không và đây cũng là một phần của quy trình kiểm tra 8 bước
Một máy đo TVOC sẽ kiểm tra và đảm bảo rằng không có bất cứ sự rò rỉ nào trong khoang pin
Bẻ gãy thanh pin cũng là một phần của cuộc kiểm tra để xem xét toàn bộ các linh kiện bên trong. Quy trình này sẽ đánh giá chất lượng tổng thể, bao gồm việc hàn các các tab pin và tình trạng của các tấm cách điện
Một máy OCV sẽ kiểm tra xem có bất cứ sự thay đổi nào về hiệu điện thế trong quá trình sản xuất từng linh kiện cho tới toàn bộ máy
Vào sáng sớm nay, Samsung đã tuyên bố 2 nguyên nhân khiến chiếc Galaxy Note 7 gặp phải sự cố. Lỗi đầu tiên được phát hiện trên những viên pin của Samsung SDI. Những viên pin này có một lỗi thiết kế nằm ở góc trên bên phải, có thể dẫn đến đoản mạch. Thiết kế của viên pin này cũng quá lớn so với khoảng trống bên trong của Note 7, đặc biệt là Note 7 lại có thiết kế màn hình cong. Thiết kế này khiến các điện cực cũng bị bẻ cong và dễ tiếp xúc với nhau gây đoản mạch.
Lỗi thứ hai do nhà sản xuất Amperex Technology và liên quan đến dây chuyền sản xuất. Samsung phát hiện thấy một lỗi sản xuất trong mối hàn của những viên pin. Cụ thể là các mối hàn này vẫn còn hở và là nguyên nhân khiến những viên pin dễ bốc cháy.
Ngoài 2 nguyên nhân liên quan đến pin, Samsung khẳng định không có phần mềm hay thiết kế phần cứng nào khác của Note7 gây cháy nổ. Do đó, những chiếc smartphone tiếp theo của Samsung chắc chắn không lặp lại sự cố như Note7.
Xem thêm: Nỗ lực không ngừng – Samsung dẫn đầu ở mọi phân khúc chiến lược
